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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 高分子 » 测试表征 » 高分子材料表面带电荷无法正常使用AFM测试
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shiqiang556

银虫 (小有名气)

[求助] 高分子材料表面带电荷无法正常使用AFM测试已有1人参与

小弟最近用实验室的AFM测DBD等离子体处理后的PE材料表面形貌时，当样品接近探针，会对探针产生排斥的作用，使光斑无法正常进入PSD，是不是由于高分子材料在处理过后表面带了电荷的缘故？各位有没有遇到这个问题，是怎么解决的呢？若样品表面带有电荷，有什么消除的办法呢？
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1楼2015-07-02 09:45:13
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薛小山

木虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by shiqiang556 at 2015-07-03 11:52:58
你说的电磁模式是在原子力显微镜AFM上用的吗？我好像没看到我的仪器有电磁模式这个选项。求教，不是学这个方向的，门外汉，不太懂。...

是啊，我用的是BRUKER-MultiMode8型号的，就有电磁模式呀，不知道你用的什么型号，没有的话我也不知道了，如果只测形貌的话可以换SEM,TEM
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各位多多关照
4楼2015-07-03 18:55:03
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薛小山

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
caominone: 金币+1, 感谢应助 2015-07-02 15:52:27
shiqiang556: 金币+20, ★★★很有帮助 2015-07-09 10:29:49
不可以用电磁模式测吗？既可以测形貌，又可以测材料表面电势分布
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各位多多关照
2楼2015-07-02 11:23:29
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shiqiang556

银虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 薛小山 at 2015-07-02 11:23:29
不可以用电磁模式测吗？既可以测形貌，又可以测材料表面电势分布

你说的电磁模式是在原子力显微镜AFM上用的吗？我好像没看到我的仪器有电磁模式这个选项。求教，不是学这个方向的，门外汉，不太懂。
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3楼2015-07-03 11:52:58
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shiqiang556

银虫 (小有名气)
引用回帖:
4楼: Originally posted by 薛小山 at 2015-07-03 18:55:03
是啊，我用的是BRUKER-MultiMode8型号的，就有电磁模式呀，不知道你用的什么型号，没有的话我也不知道了，如果只测形貌的话可以换SEM,TEM...

我用的学校自己做的老古董。应该是没有你说的那种电磁模式的功能。
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5楼2015-07-03 21:19:41
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