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shiqiang556

银虫 (小有名气)

[求助] 高分子材料表面带电荷无法正常使用AFM测试已有1人参与

小弟最近用实验室的AFM测DBD等离子体处理后的PE材料表面形貌时,当样品接近探针,会对探针产生排斥的作用,使光斑无法正常进入PSD,是不是由于高分子材料在处理过后表面带了电荷的缘故?各位有没有遇到这个问题,是怎么解决的呢?若样品表面带有电荷,有什么消除的办法呢?
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薛小山

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
caominone: 金币+1, 感谢应助 2015-07-02 15:52:27
shiqiang556: 金币+20, ★★★很有帮助 2015-07-09 10:29:49
不可以用电磁模式测吗?既可以测形貌,又可以测材料表面电势分布
各位多多关照
2楼2015-07-02 11:23:29
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shiqiang556

银虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 薛小山 at 2015-07-02 11:23:29
不可以用电磁模式测吗?既可以测形貌,又可以测材料表面电势分布

你说的电磁模式是在原子力显微镜AFM上用的吗?我好像没看到我的仪器有电磁模式这个选项。求教,不是学这个方向的,门外汉,不太懂。
3楼2015-07-03 11:52:58
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薛小山

木虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by shiqiang556 at 2015-07-03 11:52:58
你说的电磁模式是在原子力显微镜AFM上用的吗?我好像没看到我的仪器有电磁模式这个选项。求教,不是学这个方向的,门外汉,不太懂。...

是啊,我用的是BRUKER-MultiMode8型号的,就有电磁模式呀,不知道你用的什么型号,没有的话我也不知道了,如果只测形貌的话可以换SEM,TEM
各位多多关照
4楼2015-07-03 18:55:03
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shiqiang556

银虫 (小有名气)

引用回帖:
4楼: Originally posted by 薛小山 at 2015-07-03 18:55:03
是啊,我用的是BRUKER-MultiMode8型号的,就有电磁模式呀,不知道你用的什么型号,没有的话我也不知道了,如果只测形貌的话可以换SEM,TEM...

我用的学校自己做的老古董。应该是没有你说的那种电磁模式的功能。
5楼2015-07-03 21:19:41
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