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做好了AFM测试结果，不会使用软件处理分析，求各位前辈帮助 已有2人参与
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我的分析软件是Nanoscope Analysis ，想要得到样品的平均高度，和粗糙度问题，具体问题概括起来是： 1、Depth 深度和高度的意义一样么，由图片上的标尺显示高度从负八百纳米到正八百纳米，高度是算差值么？还是算高度频率分布直方图频率最大的一块 2、Rp值可以直接表示粗糙度么，在论文里要怎么用 3、看到有的前辈说可以处理图片，除去小部分最大峰与最小峰，这个要如何做？ 下面是导出的图片， 文献上的图片是导出的，但是标尺是怎么做的呢 总之：分析AFM的技能一片空白，如果各位前辈有技能书，攻略什么的，就太好了，（中文的XD）  3D.jpg  depth 数据.png  roughness result.png |
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5楼2018-03-22 13:37:30
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2楼2015-05-28 17:30:24
【答案】应助回帖
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我的分析软件是Nanoscope Analysis ，想要得到样品的平均高度，和粗糙度问题，具体问题概括起来是： 1、Depth 深度和高度的意义一样么，由图片上的标尺显示高度从负八百纳米到正八百纳米，高度是算差值么？还是算高度频率分布直方图频率最大的一块 Depth 算的是能区分为两个平面的高度差。看你的样品表面都是各种颗粒，depth不能用。你指的是颗粒高度，可以直接用cross section 拉线量出来。 2、Rp值可以直接表示粗糙度么，在论文里要怎么用 Rp 指的是最高的十个点的粗糙度。全图的粗糙度一般用Rq或者Ra来说明 3、看到有的前辈说可以处理图片，除去小部分最大峰与最小峰，这个要如何做？ 需要用到Threshold 功能。 下面是导出的图片， 文献上的图片是导出的，但是标尺是怎么做的呢 你导出的是3D形貌图，不管2d还是3d在右侧的那一系列参数里都能选择把标尺导出。 总之：分析AFM的技能一片空白，如果各位前辈有技能书，攻略什么的，就太好了，（中文的XD） 你可以看一下Nanoscope Analysis 软件的Help 文档。你所用到的功能里面都有比较详细的介绍。 |
3楼2015-05-28 18:24:32
4楼2017-12-03 12:36:33
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