| 查看: 1240 | 回复: 2 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
lychee0924新虫 (正式写手)
|
[求助]
拍完高倍SEM，被扫样品会被电子束破坏吗？ 已有1人参与
|
||
| 被扫样品表面会被碳化吗？谢谢各位！ |
回复此楼» 猜你喜欢
湖北师范大学复试调剂
已经有0人回复
-
武汉纺织大学_化工学院官方调剂群-院士团队招生-学生自由度高-每届发展好
已经有0人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有86人回复
-
济南大学国家优青课题组 2026 调剂招生来啦
已经有0人回复
-
武汉纺织大学_化学院官方调剂群-院士团队招生-学生自由度高发展好-欢迎各位同学
已经有0人回复
-
西华大学 化学 调剂有名额
已经有0人回复
-
上海应用技术大学招生调剂研究生
已经有7人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 关于SEM/TEM/AES利用电子束轰击样品，造成样品电子束损伤的问题
已经有12人回复
gxytju2008
专家顾问 (文坛精英)
-
专家经验: +1654 - MN-EPI: 2
- 应助: 4105 (副教授)
- 贵宾: 0.053
- 金币: 47570.2
- 散金: 4089
- 红花: 503
- 帖子: 14997
- 在线: 7316.8小时
- 虫号: 1111232
- 注册: 2010-09-29
- 性别: GG
- 专业: 材料物理化学
- 管辖: 微米和纳米
3楼2015-05-14 11:21:01
