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京京南

木虫 (正式写手)

[交流] 求助:GC-MS分析时 SIM法扫描的峰形没SCAN好,能解释为什么吗

最近做GC-MS时,同样的条件,由Scan模式到SIM模式,SIM下的峰形没有Scan好, 两个峰的分离度也没原来好,请教高手,这是为什么啊

[ Last edited by 京京南 on 2008-7-15 at 18:14 ]
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wishier

木虫 (正式写手)


dnp(金币+1,VIP+0):谢谢应助……^_^
首先,我得说的是,你标题注明和内容矛盾的啊?
按照你标题的意思解 :这是很正常的,因为SIM是选择性离子检测嘛,相邻两个峰的特征离子分的效果,自然没有全扫描是好
2楼2008-07-14 22:45:50
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京京南

木虫 (正式写手)

非常不好意思,正文中写错了, 是SIM的峰形没有SCAN 好。
3楼2008-07-15 18:14:06
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gjw543229986

木虫 (小有名气)

★ ★
wingcat(金币+2,VIP+0):谢谢
你使用的选择离子选了几个,如果多的话一般只要满足其中一个都会被识别的,所以有可能会有其他的物质出现,这种情况下,一般查找资料,找出你所要分析物质的定量离子,丰度比最大的为定量,其次两个为辅助定性.
4楼2008-07-15 18:57:30
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京京南

木虫 (正式写手)

我们选择的是丰度最大的特征离子,不管选择哪一个都不行,这两个化合物的其它碎片离子也非常小,不知道为什么?发文章时欠考虑解释的不清楚,不知道有没有别的解释,谢谢
5楼2008-07-15 19:33:11
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wishier

木虫 (正式写手)

那可能与你检测的物质本身结构有关系啊
6楼2008-07-16 15:14:41
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