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求助：GC-MS分析时 SIM法扫描的峰形没SCAN好，能解释为什么吗
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最近做GC-MS时，同样的条件，由Scan模式到SIM模式，SIM下的峰形没有Scan好， 两个峰的分离度也没原来好，请教高手，这是为什么啊 [ Last edited by 京京南 on 2008-7-15 at 18:14 ] |
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