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houhonghao

金虫 (正式写手)

[交流] XRD的再现性以及PL发光的问题讨论

最近楼主做实验,因为要用到XRD主峰Peak的shift来讨论有关dope浓度的问题,所以对特定的角度采取了FT-mode慢速走查的方式,来研究Peak的移动。但是,又知道这个结果的误差,就做了再现性实验。


结果,做了5次XRD出现了5种不同的结果。


请教大家都是怎么做XRD的,有哪些方法可以保证样品的再现性。

PS:个人觉得如果本身样品的结晶性非常好(即:颗粒比较大)的情况下,其XRD pattern的再现性的取得就越难。

好,,,,换个话题,是关于PL在光触媒活性评价中的应用。PL发光究竟能不能表征表征电子跟空穴的复合????
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白羽石棱

金虫 (小有名气)

★ ★
houhonghao(金币+1): 谢谢参与
liwentao2010: 金币+1, 谢谢交流,辛苦 2015-04-28 18:00:43
同一批样品,同一次测试,如果是整体移动那就是误差的原因多!
~~~谢谢你的狠心,……~~~让我学会了放弃。%%
2楼2015-04-22 20:16:15
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houhonghao(金币+1): 谢谢参与
3楼2015-04-22 20:22:30
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houhonghao(金币+1): 谢谢参与
4楼2015-04-22 20:28:42
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5楼2015-04-22 20:50:06
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风舞灵动

铜虫 (小有名气)

★ ★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
liwentao2010: 金币+3, 谢谢回帖,辛苦 2015-04-28 18:00:13
那个再现性和你样品颗粒大小均匀性、每次制样样品平整度+样品高度、测试环境都有关系的吧?如果想定XRD谱峰的位移,建议采用加Si定标。就是在样品中混入一定比例(微量)的高纯Si粉,测得的XRD谱图检索出Si的衍射峰,然后对照Si的标准pdf卡片,计算差值,再用整体的衍射角度加上或者减去这个差值,即得所测样品的实际XRD数据。这个方法跟XPS中以C 1s 284.6 eV 来定标的原理是一样的。
6楼2015-04-23 10:37:43
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qingyizeng

金虫 (正式写手)

博敬翟琦_云客

★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
liwentao2010: 金币+1, 谢谢交流,辛苦 2015-04-28 18:00:30
PL 测试中,文献都说是 强度小了,分离效率高。 但是激发的电子空穴肯定要以某种形式消耗,这个应该如何解释?我一直不用这个数据,是因为觉得这个理论不严谨。不知道楼主怎么看的?
7楼2015-04-26 20:48:48
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houhonghao

金虫 (正式写手)

引用回帖:
7楼: Originally posted by qingyizeng at 2015-04-26 21:48:48
PL 测试中,文献都说是 强度小了,分离效率高。 但是激发的电子空穴肯定要以某种形式消耗,这个应该如何解释?我一直不用这个数据,是因为觉得这个理论不严谨。不知道楼主怎么看的?

PL解释了材料的物理性能,我们需要证明的是它的化学性能,某种程度是有关,某种程度无关。能用的时候用一下吧。。。。
涙とともにパンを食べたことがなければ、人生の味がわからない。
8楼2015-04-27 19:23:06
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