| 查看: 1240 | 回复: 2 | ||||||
| 当前主题已经存档。 | ||||||
[交流]
[求助]谢乐公式计算晶粒大小
|
||||||
|
用谢乐公式求晶粒大小时，的扫描范围选择依据是什么啊？选高角度还是低角度的衍射峰啊？谢谢。 另外，K值选0.89还是1啊？ |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 科研啊 努力啊 希望有用啊 | 核壳催化剂2013-09-23 | 实验技能 |
» 猜你喜欢
武汉纺织大学技术研究院招收化学、生物、材料、纺织、机械等专业调剂生
已经有0人回复
-
台州学院有序多孔材料团队化学、材料与化工硕士招生，请速联系！
已经有0人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有291人回复
-
首都师范大学化学系田洋课题组专硕招调剂生
已经有10人回复
-
广州大学大湾区环境研究院环境大分子材料研究所王平山教授团队 2026年研究生招生简章
已经有0人回复
-
天津理工大学
已经有0人回复
-
台州学院有序多孔材料团队最后冲刺，同学们别错过哦，请速联系！
已经有0人回复
-
江西科技师范大学物理化学课题组接收调剂生，名额还有，速来
已经有0人回复
微不足道士
铁杆木虫 (著名写手)
- 应助: 3 (幼儿园)
- 金币: 11443.6
- 散金: 6972
- 红花: 10
- 帖子: 2163
- 在线: 401.3小时
- 虫号: 320435
- 注册: 2007-03-10
- 性别: GG
- 专业: 其他无机非金属材料
http://zhidao.baidu.com/question/18380111.html
|
Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰半高宽, θ 为衍射角) 双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。 1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。 2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程： 式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。 计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。 3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为： 式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。 4 Hall方法 测量二个以上的衍射峰的半高宽FW（S），由于晶块尺寸与晶面指数有关，所以要选择同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 为横坐标，作 图，用最小二乘法作直线拟合，直线的斜率为微观应变的两倍，直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。 5 半高宽、样品宽化和仪器宽化 样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。 为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等。 |
2楼2008-05-22 15:44:51
孙?�730
至尊木虫 (知名作家)
- CMEI: 4
- 应助: 537 (博士)
- 贵宾: 0.961
- 金币: 22979.7
- 散金: 6464
- 红花: 177
- 沙发: 16
- 帖子: 8217
- 在线: 2899.2小时
- 虫号: 490447
- 注册: 2008-01-03
3楼2008-05-22 19:45:30
