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阿斯蒂芬

银虫 (小有名气)

[求助] AFM测量粒径与TEM相差两倍?? 已有5人参与

最近合成了40nm大小的无机纳米颗粒,通过TEM表征,也没问题。
但是用bruker的AFM ,typing 模式测的话,大小有100多nm,但是看高度是30~40nm。
这是为什么,AFM水平测的不准?差距有这么大吗?
我使用硅片制的样

AFM测量粒径与TEM相差两倍??
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yujianaa

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
或者把分辨率坐做高点试试看,一般都是256*256,你可以试试512*512
“忍”者无敌
7楼2014-10-06 18:07:49
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
阿斯蒂芬: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2014-10-09 16:20:15
恩,这个看起来确实是针拖尾之类的问题,有畸变的样子,看边缘

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]

» 本帖已获得的红花(最新10朵)

2楼2014-10-06 11:53:52
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空白的回忆

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
这个属正常吧,不同的测试手段得出的结果是会有误差的,纳米材料的粒径和计算值有时候是会有误差的
3楼2014-10-06 12:45:48
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阿斯蒂芬

银虫 (小有名气)

送红花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2014-10-06 11:53:52
恩,这个看起来确实是针拖尾之类的问题,有畸变的样子,看边缘

那如何处理这个问题的?
我试了两种硬度不同的针,感觉没什么变化
换了Bruker 的ScanAsyst模式,也不行
4楼2014-10-06 14:16:46
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