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AFM测量粒径与TEM相差两倍？？ 已有5人参与
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最近合成了40nm大小的无机纳米颗粒，通过TEM表征，也没问题。 但是用bruker的AFM ，typing 模式测的话，大小有100多nm，但是看高度是30~40nm。 这是为什么，AFM水平测的不准？差距有这么大吗？ 我使用硅片制的样  000000000000000000000000000000000000000000000000000.jpg |
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