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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM测量粒径与TEM相差两倍？？？
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阿斯蒂芬

银虫 (小有名气)

[求助] AFM测量粒径与TEM相差两倍？？？ 已有2人参与

最近合成了40nm大小的无机纳米颗粒，通过TEM表征，也没问题。
但是用bruker的AFM ，typing 模式测的话，大小有100多nm，但是看高度是30~40nm。
这是为什么，AFM水平测的不准吗？
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1楼 2014-10-05 18:02:33
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mochi1029

铜虫 (初入文坛)
的确是因为针尖展宽效应所导致。普通探针针尖曲率半径大概有一二十个纳米。除非用超细针尖，曲率半径达到1nm的那种，测量结果可能会好点，但是这种探针的价格也较普通探针更昂贵。
不过afm好像不擅长测粒径什么的吧？
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7楼2014-10-16 22:15:05
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
阿斯蒂芬: 金币+10, ★★★★★最佳答案, 我这个好像不能编辑了，没法上图，我在开一个求助贴了 2014-10-06 10:14:38
上图看看吧，有可能是afm有畸变拖尾等等，以透射为准应该是没问题的，另外就是有可能AFM和透射的样品由于制备方式，基底选择性不同，而导致留在基底上的颗粒本身就是不同的，这个可以找个高分辨的场发射扫描看看，40nm没问题的应该
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2楼2014-10-05 18:54:33
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sheihk

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
AFM的探针本身有宽度，会影响结果。所以多数情况下用AFM测厚度，用SEM/TEM等测宽度。
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3楼2014-10-05 21:59:07
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atpbrave

铁杆木虫 (著名写手)

Prof
你这结果明显是一致的。AFM通常只用高度，至于原因，你稍微花几分钟搜一下就明白了。
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4楼2014-10-06 05:45:24
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