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阿斯蒂芬

银虫 (小有名气)

[求助] AFM测量粒径与TEM相差两倍??? 已有2人参与

最近合成了40nm大小的无机纳米颗粒,通过TEM表征,也没问题。
但是用bruker的AFM ,typing 模式测的话,大小有100多nm,但是看高度是30~40nm。
这是为什么,AFM水平测的不准吗?
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
阿斯蒂芬: 金币+10, ★★★★★最佳答案, 我这个好像不能编辑了,没法上图,我在开一个求助贴了 2014-10-06 10:14:38
上图看看吧,有可能是afm有畸变拖尾等等,以透射为准应该是没问题的,另外就是有可能AFM和透射的样品由于制备方式,基底选择性不同,而导致留在基底上的颗粒本身就是不同的,这个可以找个高分辨的场发射扫描看看,40nm没问题的应该
2楼2014-10-05 18:54:33
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sheihk

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
AFM的探针本身有宽度,会影响结果。所以多数情况下用AFM测厚度,用SEM/TEM等测宽度。
3楼2014-10-05 21:59:07
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atpbrave

铁杆木虫 (著名写手)

Prof

你这结果明显是一致的。AFM通常只用高度,至于原因,你稍微花几分钟搜一下就明白了。
4楼2014-10-06 05:45:24
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wtiger

铁杆木虫 (知名作家)

针尖效应
5楼2014-10-06 23:22:09
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阿斯蒂芬

银虫 (小有名气)

引用回帖:
5楼: Originally posted by wtiger at 2014-10-06 23:22:09
针尖效应

怎么样减小这个影响?
6楼2014-10-07 08:35:26
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mochi1029

铜虫 (初入文坛)

的确是因为针尖展宽效应所导致。普通探针针尖曲率半径大概有一二十个纳米。除非用超细针尖,曲率半径达到1nm的那种,测量结果可能会好点,但是这种探针的价格也较普通探针更昂贵。
不过afm好像不擅长测粒径什么的吧?
7楼2014-10-16 22:15:05
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