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386992525木虫 (正式写手)
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X射线反射（XRR） Leptos 数据拟合
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用X射线衍射仪做高分子薄膜的X射线反射（XRR）的实验，测量高分子多层薄膜中各亚层的厚度。 在利用Leptos拟合XRR数据的过程中，需要建立多层薄膜模型。 对于一些常规的物质（比如Si，SiO2），Leptos数据库里有相关的一些无机材料的物理参数。这时我们只需要选择相关的材料即可。 然而，对于一些高分子样品，或者一些掺杂，或者杂化样品，Leptos材料库中并未收录这些材料的参数。 这时我们应该如何去选取相关的参数？ 同时， 在Leptos拟合过程中，如何处理未知材料的多层膜厚度的测量。 谢谢了！ |
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Twilight0220
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jiangpengju
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phoenix121
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