| 查看: 4369 | 回复: 4 | ||
386992525木虫 (正式写手)
|
[求助]
X射线反射（XRR） Leptos 数据拟合
|
|
用X射线衍射仪做高分子薄膜的X射线反射（XRR）的实验，测量高分子多层薄膜中各亚层的厚度。 在利用Leptos拟合XRR数据的过程中，需要建立多层薄膜模型。 对于一些常规的物质（比如Si，SiO2），Leptos数据库里有相关的一些无机材料的物理参数。这时我们只需要选择相关的材料即可。 然而，对于一些高分子样品，或者一些掺杂，或者杂化样品，Leptos材料库中并未收录这些材料的参数。 这时我们应该如何去选取相关的参数？ 同时， 在Leptos拟合过程中，如何处理未知材料的多层膜厚度的测量。 谢谢了！ |
回复此楼
jiangpengju
新虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 206.6
- 帖子: 67
- 在线: 17.4小时
- 虫号: 4232746
- 注册: 2015-11-19
- 性别: GG
- 专业: 无机非金属类光电信息与功
2楼2017-01-05 20:17:39
Twilight0220
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 1
- 帖子: 11
- 在线: 10.5小时
- 虫号: 5732657
- 注册: 2017-02-24
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
3楼2017-08-07 11:34:52
4楼2020-06-09 10:55:54
phoenix121
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 878.3
- 散金: 46
- 帖子: 23
- 在线: 82.5小时
- 虫号: 6877243
- 注册: 2017-06-30
- 专业: 物理电子学
5楼2020-07-06 17:01:49