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匿名

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1楼2014-04-19 17:27:38
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匿名

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4楼2014-04-19 21:14:55
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
SEM图主要是观察材料表面形貌及其信息，而TEM则主要是看材料内部结构信息的。因此二者的制样工艺不同，SEM注解观察即可，而TEM需进行离子减薄处理。
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2楼2014-04-19 17:45:13
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木叶月明

木虫 (小有名气)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
SEM是电子束打在样品表面，收集产生的二次电子或者背散射电子等一些列信号来分析样品的表面特征（若安装有EBSD探头，也可以通过收集背散射电子来获得晶粒的取向等一些信息）；而TEM是电子束透过样品，观察样品的内部信息，也可以通过电子衍射打出衍射斑点来分析晶粒的取向。
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3楼2014-04-19 20:47:40
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ihdx0205

木虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
3楼: Originally posted by 木叶月明 at 2014-04-19 20:47:40
SEM是电子束打在样品表面，收集产生的二次电子或者背散射电子等一些列信号来分析样品的表面特征（若安装有EBSD探头，也可以通过收集背散射电子来获得晶粒的取向等一些信息）；而TEM是电子束透过样品，观察样品的内部 ...

请问如何根据透射斑点来分析晶粒取向？
有的文献中分析到哪个晶界的斑点为6重对称，所以存在该晶界的织构。不知道是什么意思？
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5楼2014-04-20 09:03:21
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