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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM与SEM，TEM的区别
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落雪含香

金虫 (正式写手)

[求助] AFM与SEM，TEM的区别

AFM，SEM，TEM在表征物质的时候有什么不同的地方呢，我查了都是测物质表面结构的，但是为什么文章中又会同时用到AFM，SEM或者AFM，TEM呢？


我想知道这个石墨烯的AFM图说明了一个什么问题呢？看文献都看不懂，太专业了


[ Last edited by 落雪含香 on 2011-5-10 at 16:41 ]
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1楼 2011-05-10 16:35:58
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回帖支持 ( 显示支持度最高的前 50 名 )

tju1987

金虫 (小有名气)
引用回帖:
877153楼: Originally posted by 落雪含香 at 2011-05-10 17:06:34:
这个图说明了什么情况呢，为什么图中会有线，图上的1.1nm 又表示什么呢？

图中的线是图像处理是测量样品表面高度的，下面那条直线代表的是一个横截面，上面的那条曲线是对应这条直线（横截面）的表面高度，暗的地方表示低（基底），亮的地方表示高（样品）。很明显下面的直线通过的那块亮的区域的宽度与上面的曲线凸出来的那段对应的。1.1nm是你样品的高度。
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15楼2012-05-12 22:24:55
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wulishi8

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

★
落雪含香(金币+2): 谢谢你 2011-05-10 18:36:16
xjajx(金币+1): 鼓励有价值回复 2011-05-10 19:34:23
这个AFM下面的线测试的是对应的直线划过石墨烯的高度，1.1nm是指石墨烯的高度，这个高度可能是2-3层。
SEM看不出层数和高度，只是看表面形貌。
HRTEM可以直接地看出石墨烯的层数。
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7楼2011-05-10 18:21:53
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nanofellow

专家顾问 (著名写手)

【答案】应助回帖

★
xjajx(金币+1): 鼓励有价值回复 2011-05-11 15:57:13
落雪含香(金币+2): 谢谢你哈 2011-05-12 10:19:32
引用回帖:
Originally posted by 落雪含香 at 2011-05-10 16:35:58:
AFM，SEM，TEM在表征物质的时候有什么不同的地方呢，我查了都是测物质表面结构的，但是为什么文章中又会同时用到AFM，SEM或者AFM，TEM呢？


我想知道这个石墨烯的AFM图说明了一个什么问题呢？看文献都看不懂， ...

你提供的那幅AFM图就很能说明问题啊，利用AFM可以容易地测量样品的高度，评估样品是否是原子级平整，并且AFM可以测活的，生物样品，不必像SEM和TEM那样需要抽高真空，要用电子束轰击。
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想成为JACS的作者，坚持！
9楼2011-05-11 12:08:10
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alxz

铁杆木虫 (职业作家)

其实我是一只大老鼠

【答案】应助回帖

落雪含香(金币+1): 谢谢你哈 2011-05-12 10:18:34
引用回帖:
Originally posted by 落雪含香 at 2011-05-10 17:06:34:
这个图说明了什么情况呢，为什么图中会有线，图上的1.1nm 又表示什么呢？

那是一个切面的示意图
表示在云母表面上有一层石墨烯覆盖
石墨烯的厚度为1.1nm
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风起，夜未央~流年，乱浮生
10楼2011-05-11 12:13:19
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普通回帖

8mile

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
落雪含香(金币+3): 谢谢你，我是想知道，在表征物质样貌上有何区别？既然都能看出是什么样貌为什么两个都要用 2011-05-10 16:57:41
xjajx(金币+1): 鼓励有价值回复 2011-05-10 19:34:04
AFM是基于力的显微镜，SEM、TEM是基于电的显微镜。原理不同
AFM的最大特点是样品无损，广泛用于生物体系；SEM、TEM经过电子的轰击，样品是死物，广泛用于材料
还有很多区别啊，我不知道你想问什么。文献里肯定会有交代为什么要用两种表征方式的啊？
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2楼2011-05-10 16:48:39
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8mile

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

落雪含香(金币+1): 2011-05-10 17:05:18
这是一张石墨烯的AFM俯视图（面积是3*3平方微米）
右边的标尺表示高度，越暗的地方越低，越亮的地方越高
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3楼2011-05-10 16:53:38
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落雪含香

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by 8mile at 2011-05-10 16:53:38:
这是一张石墨烯的AFM俯视图（面积是3*3平方微米）
右边的标尺表示高度，越暗的地方越低，越亮的地方越高

这个图说明了什么情况呢，为什么图中会有线，图上的1.1nm 又表示什么呢？
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4楼2011-05-10 17:06:34
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8mile

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

引用回帖:
Originally posted by 落雪含香 at 2011-05-10 17:06:34:
这个图说明了什么情况呢，为什么图中会有线，图上的1.1nm 又表示什么呢？

文献中没写吗？
我怀疑是表明基底的高低起伏只有1nm，从而说明基底很平整？
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5楼2011-05-10 17:13:57
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8mile

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

落雪含香(金币+2): 是不是只要去测AFM都能有这条线呢？高低起伏又说明什么问题了呢？ 2011-05-10 18:35:48
引用回帖:
Originally posted by 8mile at 2011-05-10 17:13:57:
文献中没写吗？
我怀疑是表明基底的高低起伏只有1nm，从而说明基底很平整？

错了，是说的石墨烯的高度是1.1nm
你看下面有条黑色直线，波浪线表示的就是这条直线上的高低起伏
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6楼2011-05-10 17:17:59
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donkeypku

至尊木虫 (著名写手)

两院院士

【答案】应助回帖

★
xjajx(金币+1): 鼓励有价值回复 2011-05-11 15:57:01
落雪含香(金币+2): 谢谢你哈 2011-05-12 10:19:16
引用回帖:
Originally posted by 落雪含香 at 2011-05-10 16:35:58:
AFM，SEM，TEM在表征物质的时候有什么不同的地方呢，我查了都是测物质表面结构的，但是为什么文章中又会同时用到AFM，SEM或者AFM，TEM呢？


我想知道这个石墨烯的AFM图说明了一个什么问题呢？看文献都看不懂， ...

AFM适合测基底上样品的表面起伏和形貌
SEM基底上样品的表面形貌
TEM适合测样品的形貌，但是测试时需要样品比较薄，以便电子通过，所以基底上的样品不行
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博观约取，厚积薄发
8楼2011-05-11 11:10:32
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