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在SEM下做背散射,观察晶粒大小
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贺慧芳
新虫
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金币: 196.5
帖子: 44
在线: 39小时
虫号: 2598444
[交流]
在SEM下做背散射,观察晶粒大小
请教各位大神, 本人想在SEM下做背散射观察晶粒的大小。对于样品的制备,有人建议我抛光。我想请教的是怎么对样品进行抛光?一面抛光还是两面都抛光?样品的厚度要不要求很均匀? 由于本人几乎没做过电镜,所以没有经验。还望各位大神多多指教。谢谢。
[
Last edited by 贺慧芳 on 2014-2-20 at 12:23
]
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2014-02-20 12:19:20
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糖虎
新虫
(初入文坛)
应助: 0
(幼儿园)
金币: 477.1
帖子: 10
在线: 8.4小时
虫号: 1978392
★ ★ ★
贺慧芳(金币+1): 谢谢参与
贺慧芳: 金币+2, 太感谢了
2014-02-24 12:53:46
你好,如果你只是观察晶粒尺寸用背散射的意义不大,直接用二次电子就可以了,二次电子的分辨率比背散射高,且二次电子成像对样品要求要相对低一些,不管哪一个都只需要抛光一个面就可以,背散射对扩散和第二相观察效果很好!但是需要尽可能的去除表面的加工应力。二次电子成像的只是需要抛光,在把晶界腐蚀出来就可以了!材料的断口也可以观察晶粒尺寸!SEM只能够观察到微小区域的晶粒尺寸,应该做一个XRD计算宏观的平均晶粒尺寸,这样数据可信度高
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5楼
2014-02-23 15:12:34
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