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vancyamy

银虫 (小有名气)

引用回帖:
9楼: Originally posted by peterflyer at 2014-02-18 20:47:16
若粗略定性的分析话,可以先制作个横截面为表面的试样,标出试样的深度方向后,在SEM的EDS能谱上进行深度方向的元素成份的点分析即可。

请问 二次离子质谱 可以测 含量非常小的元素的分布么? 谢谢
11楼2014-02-19 03:17:42
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


引用回帖:
11楼: Originally posted by vancyamy at 2014-02-19 03:17:42
请问 二次离子质谱 可以测 含量非常小的元素的分布么? 谢谢...

用一次离子束轰击表面,将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子,然后用磁分析器或四极滤质器所组成的质谱仪分析离子的荷/质比,便可知道表面的成份。这应该类似于EDS吧,只是一个用电子,一个用离子。但由于各种元素的二次离子差额值相差非常大,二次离子质谱作定量分析非常困难。
12楼2014-02-19 07:57:48
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zhanpujie

铁虫 (初入文坛)

内容已删除
感谢现在努力的自己……
13楼2015-06-25 09:58:13
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小胖专家

新虫 (初入文坛)


【答案】应助回帖

可以用辉光光谱仪
14楼2015-06-28 23:47:03
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lovelotuss

铜虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

辉光光谱,gdoes,专门做元素深度分布,深度方向可以精确到5nm

[ 发自小木虫客户端 ]
15楼2015-06-29 08:44:54
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