| 查看: 337 | 回复: 0 | ||
[求助]
中译英
|
|
为了研究通入O2对不同形核密度生长的金刚石薄膜的生长速率影响,将生长后的两个样品进行了SEM表征,两个图分别是不同形核密度条件下进行的断面表征。在其它生长条件不变的情况下,将O2(0.2ml/min)通入到反应室内,O2的加入和H2相比,能对寄生相起着有效地刻蚀作用,因此可以提高沉积金刚石薄膜的速率,并且还能够对薄膜的质量有一定的提高。除此之外,所选用的基底材料Si在沉积过程中的掺入量也可以降低。对于薄膜的厚度的测量,主要是通过观察其断面,可以从图中看出,形核密度高的样品在生长过程中的平均速率得到了较大的提高,由1μm•h-1提高到了1.5μm•h-1。 图5a和5b是两个不同形核密度条件下的金刚石薄膜SEM照片,可以看出,两个图中的金刚石薄膜断面形貌有明显差异,图5a中,可以清晰的看出所生长的大部分金刚石薄膜的晶形和颗粒大小,两个样品金刚石膜的生长都是柱状生长的,薄膜各个方向的生长速率很均匀,中间的颗粒尺寸较小,可能原因是在形核过程中的形核密度较小,生长速率比其它颗粒大的尺寸快,另一种可能是在生长过程中,这些小颗粒是由二次形核过程中生长的,在和其它方向上的金刚石薄膜相比,生长速率相同,所以尺寸也较小。图5b相比于图5a是图b具有更高的形核密度,图中很直观的可以看到生长的尺寸要大于图5a,并且图5b是高速率生长的柱状模式,断面层的表面看不出有明显的晶形,在样品中加入了少量的O2,等离子体中就会出现O和OH自由基[15],使得甲烷在等离子体中进一步分解:可以用如下方程式表示:CH4+O→CH3+OH CH4+OH→CH3+H2O 可以看出最后的CH3的浓度增加,最后金刚石膜的沉积速率得到了提高。另外一方面产生的OH使得基片表面的H脱离,产生更多的悬挂键,从而利于金刚石膜的沉积,因此形核密度高时,低浓度的O2有利于提高金刚石薄膜的沉积速率。 |
» 猜你喜欢
CSC & MSCA 博洛尼亚大学能源材料课题组博士/博士后招生|MSCA经费充足、排名优
已经有5人回复
酰胺脱乙酰基
已经有8人回复
有70后还继续奋斗在职场上的吗?
已经有6人回复
博士延得我,科研能力直往上蹿
已经有7人回复
退学或坚持读
已经有27人回复
面上基金申报没有其他的参与者成吗
已经有5人回复
遇见不省心的家人很难过
已经有22人回复
多组分精馏求助
已经有6人回复













回复此楼