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请教函数的曲率最大值（最弯曲的点）已经有3人回复

1楼2013-11-30 09:29:06

coatingzhang

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supernatural: 金币-2, 屏蔽内容, 违规存档, 请不要在本版回复广告贴，第一次出现 2013-12-01 10:18:47

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2楼2013-11-30 22:30:10

haode22

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你是指微米级的长度，还是微米级的厚度？如果是微米级的长度，应该可以用SEM观察吧，或者原子力显微镜，还没有专门设备，你可以参考王中林的论文，他们做ZnO纳米线的发电机，其中有提到如何测量纳米级长度的在SEM内弯曲和测量。

逐渐成为工作狂，技术狂.............

3楼2013-12-01 12:53:36

peterflyer

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楼主应该是测量薄膜厚度方向的曲率吧？那就将薄膜沿厚度方向切开并打磨抛光，然后在坐标显微镜下测量不行吗？

4楼2013-12-01 20:57:37

xmcmx

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4楼: Originally posted by peterflyer at 2013-12-01 20:57:37
楼主应该是测量薄膜厚度方向的曲率吧？那就将薄膜沿厚度方向切开并打磨抛光，然后在坐标显微镜下测量不行吗？

你好，能具体说一下方法吗？

5楼2013-12-02 11:33:52

peterflyer

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5楼: Originally posted by xmcmx at 2013-12-02 11:33:52
你好，能具体说一下方法吗？...

尽量将试样磨得平一些，并使薄膜柱面垂直于试样平面。然后，（弦长），定出曲线上三点（中间的点距两边等距离），按圆弧来处理。就是连接两边的点（圆弧的弦），测出其长度（弦长）L；然后再测量中间的点到弦的距离H，则由勾股定理列方程求解后，曲率半径R=H/2+L^2/（8*H)，而曲率ρ为：ρ=1/R 。
楼主明白我说的意思了吗？

6楼2013-12-02 12:04:50

papaverme

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xmcmx: 金币+1 2013-12-03 08:36:28

你所谓“微弯曲”的膜是独立存在并且自支持的吗？如果是，可以平放在基板（抛光硅片或云母）上用AFM表征，根据height profile测量计算曲率。

如果是在特定的力学环境下才能保持这种“微弯曲”，那么可以在SEM下拍照然后用几何测量定出曲率。

7楼2013-12-02 23:34:59

xmcmx

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6楼: Originally posted by peterflyer at 2013-12-02 12:04:50
尽量将试样磨得平一些，并使薄膜柱面垂直于试样平面。然后，（弦长），定出曲线上三点（中间的点距两边等距离），按圆弧来处理。就是连接两边的点（圆弧的弦），测出其长度（弦长）L；然后再测量中间的点到弦的距离 ...

谢谢解答！

8楼2013-12-03 08:36:13