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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 微纳器件 » 微米级的薄膜微弯曲后曲率的测定
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xmcmx

新虫 (小有名气)

[求助] 微米级的薄膜微弯曲后曲率的测定

哪里可以测定微米级的薄膜微弯曲后的曲率？
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1楼 2013-11-30 09:29:06
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
xmcmx: 金币+1 2013-12-03 08:36:28
你所谓“微弯曲”的膜是独立存在并且自支持的吗？如果是，可以平放在基板（抛光硅片或云母）上用AFM表征，根据height profile测量计算曲率。

如果是在特定的力学环境下才能保持这种“微弯曲”，那么可以在SEM下拍照然后用几何测量定出曲率。
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7楼2013-12-02 23:34:59
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haode22

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与，应助指数 +1
xmcmx: 金币+2, ★有帮助 2013-12-02 11:33:14
你是指微米级的长度，还是微米级的厚度？如果是微米级的长度，应该可以用SEM观察吧，或者原子力显微镜，还没有专门设备，你可以参考王中林的论文，他们做ZnO纳米线的发电机，其中有提到如何测量纳米级长度的在SEM内弯曲和测量。
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逐渐成为工作狂，技术狂.............
3楼2013-12-01 12:53:36
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与，应助指数 +1
xmcmx: 金币+2, ★有帮助 2013-12-02 11:33:24
楼主应该是测量薄膜厚度方向的曲率吧？那就将薄膜沿厚度方向切开并打磨抛光，然后在坐标显微镜下测量不行吗？
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4楼2013-12-01 20:57:37
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xmcmx

新虫 (小有名气)
引用回帖:
4楼: Originally posted by peterflyer at 2013-12-01 20:57:37
楼主应该是测量薄膜厚度方向的曲率吧？那就将薄膜沿厚度方向切开并打磨抛光，然后在坐标显微镜下测量不行吗？

你好，能具体说一下方法吗？
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5楼2013-12-02 11:33:52
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