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11楼2013-11-25 17:02:15

papaverme

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天外飞鱼: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2013-11-26 23:21:50

在你做的这个尺度上，让AFM和SEM观察同一个区域也不是不可能的。
在SEM观察时，在这个地方拍一系列不同倍数的照片，并在最小的放大倍数下（几十或上百倍），这样就可能做出一个“藏宝图”，标出SEM照片对应的位置。然后在AFM下先用光学显微镜根据“藏宝图”去找这个位置下针尖，就能实现对同一个位置的AFM观察。

在做AFM时，用Tapping模式，试着调一下驱动力，也许加大一些力才能看见SEM看到的长片，因为SEM看到的很可能是较深层的形貌。

同时，建议重做一次SEM，用5kV甚至更低的加速电压，比较一下样品表层和深层的形貌。如果SEM低电压看到小片，高电压看到长片；同时AFM轻力看到是小片，重力看到的是长片那么就印证了上面的猜测。之后要做的就是进一步分散，避免堆积，让小片和长片都单独摆着，其实也必须是单独铺在基板上，AFM测出的厚度才较准确。

12楼2013-11-25 18:46:19

papaverme

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引用回帖:

11楼: Originally posted by 天外飞鱼 at 2013-11-25 17:02:15
这个定位问题基本解决不了，再者SEM制样是比较浓的，AFM样品很稀...

晕你SEM和AFM用的本来就不是同一个样品还谈什么

13楼2013-11-25 18:47:07

papaverme

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AFM用更稀的溶液制样是对的，不过这样SEM和AFM照片不一致的问题就没有必要纠结了。
就目前的AFM制样方式，多做几个，硅片面积也可以更大些，然后在SEM或者相差光学显微镜或者反射光学显微镜下找到有长片的硅片，或者硅片上有长片的位置，然后再拿去AFM上瞄准位置再下针。

14楼2013-11-25 18:52:26

gxytju2008

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天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:23:44

确实。。不是一个样品这没啥好费劲的了，有可能你的大片在稀浓度下不能吸附到你的基地的，当然找不到，你可以直接看看你AFM基底的SEM，如果电镜分辨率好低电压应该是能看到的

15楼2013-11-25 20:14:42

Adrean

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很明显，你的AFM使用还不到家，探针驱动幅度没调好，感觉幅度图像模糊，来回两次扫描重合度不佳，应适当加大驱动幅度

千里之行始于足下

16楼2013-11-25 21:54:54

Jeaweal

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选区不可能一样啊

17楼2013-11-25 22:49:15

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天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:23:32

问题出在你AFM的制样操作上，你的纳米片是无机材料，超声会把你的纳米片打碎，所以你想得到大的纳米片的话最好不要超声，而是选好的分散剂来制样。Good luck

18楼2013-11-25 23:13:17

yuan999

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天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:24:00

引用回帖:

7楼: Originally posted by 天外飞鱼 at 2013-11-25 16:02:53
SEM是测了几次，基本都是图中那样的形貌，AFM是测了好多次基本找不到大的片，应该不是测试位置的差异。即使仪器的原理不同，对样品的形貌测试应该不会有太大的区别，我这个差异有点太明显了，愁人额...

采用同一个样品，测试地方大概相同，试一试看看，应该可以找出原因

我~心~依~旧

19楼2013-11-26 09:28:52

spinwave

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做一个样品，定位测量，测同一个区域图像。

come on

20楼2013-11-27 09:42:37