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天外飞鱼

铁杆木虫 (正式写手)

引用回帖:
8楼: Originally posted by miracle2860 at 2013-11-25 16:38:22
楼主可以在SEM下观察到一个区域,然后AFM上再去找那个区域,相同区域比较下看看

这个定位问题基本解决不了,再者SEM制样是比较浓的,AFM样品很稀
11楼2013-11-25 17:02:15
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
天外飞鱼: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2013-11-26 23:21:50
在你做的这个尺度上,让AFM和SEM观察同一个区域也不是不可能的。
在SEM观察时,在这个地方拍一系列不同倍数的照片,并在最小的放大倍数下(几十或上百倍),这样就可能做出一个“藏宝图”,标出SEM照片对应的位置。然后在AFM下先用光学显微镜根据“藏宝图”去找这个位置下针尖,就能实现对同一个位置的AFM观察。

在做AFM时,用Tapping模式,试着调一下驱动力,也许加大一些力才能看见SEM看到的长片,因为SEM看到的很可能是较深层的形貌。

同时,建议重做一次SEM,用5kV甚至更低的加速电压,比较一下样品表层和深层的形貌。如果SEM低电压看到小片,高电压看到长片;同时AFM轻力看到是小片,重力看到的是长片那么就印证了上面的猜测。之后要做的就是进一步分散,避免堆积,让小片和长片都单独摆着,其实也必须是单独铺在基板上,AFM测出的厚度才较准确。
12楼2013-11-25 18:46:19
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)

引用回帖:
11楼: Originally posted by 天外飞鱼 at 2013-11-25 17:02:15
这个定位问题基本解决不了,再者SEM制样是比较浓的,AFM样品很稀...


晕 你SEM和AFM用的本来就不是同一个样品还谈什么
13楼2013-11-25 18:47:07
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

AFM用更稀的溶液制样是对的,不过这样SEM和AFM照片不一致的问题就没有必要纠结了。
就目前的AFM制样方式,多做几个,硅片面积也可以更大些,然后在SEM或者相差光学显微镜或者反射光学显微镜下找到有长片的硅片,或者硅片上有长片的位置,然后再拿去AFM上瞄准位置再下针。
14楼2013-11-25 18:52:26
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

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天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:23:44
确实。。不是一个样品这没啥好费劲的了,有可能你的大片在稀浓度下不能吸附到你的基地的,当然找不到,你可以直接看看你AFM基底的SEM,如果电镜分辨率好低电压应该是能看到的
15楼2013-11-25 20:14:42
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Adrean

金虫 (小有名气)

钻虫

很明显,你的AFM使用还不到家,探针驱动幅度没调好,感觉幅度图像模糊,来回两次扫描重合度不佳,应适当加大驱动幅度
千里之行始于足下
16楼2013-11-25 21:54:54
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Jeaweal

铁杆木虫 (著名写手)

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感谢参与,应助指数 +1
选区不可能一样啊
17楼2013-11-25 22:49:15
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渊源01

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:23:32
问题出在你AFM的制样操作上,你的纳米片是无机材料,超声会把你的纳米片打碎,所以你想得到大的纳米片的话最好不要超声,而是选好的分散剂来制样。Good luck
18楼2013-11-25 23:13:17
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yuan999

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

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天外飞鱼: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-11-26 23:24:00
引用回帖:
7楼: Originally posted by 天外飞鱼 at 2013-11-25 16:02:53
SEM是测了几次,基本都是图中那样的形貌,AFM是测了好多次基本找不到大的片,应该不是测试位置的差异。即使仪器的原理不同,对样品的形貌测试应该不会有太大的区别,我这个差异有点太明显了,愁人额...

采用同一个样品,测试地方大概相同,试一试看看,应该可以找出原因
我~心~依~旧
19楼2013-11-26 09:28:52
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spinwave

木虫 (正式写手)

做一个样品,定位测量,测同一个区域图像。
come on
20楼2013-11-27 09:42:37
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