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ljbsd

木虫 (初入文坛)

你的测试方法选择有些误差:
首先,你所得到的纳米带是单根单晶结构的,如果想验证生长方向,采用SAED+高分辨电镜的方法,并且随机选取多根进行统计最为可靠;
其次,你利用的PXRD测试方法能够得到的是粉末样品的集合特征(请注意是粉末样品的集合特征,带有统计平均的特性),严格来讲并不能反应你的想得到的“单晶纳米带”的“取向”,即生长方向,个人觉得取向这个词不如生长方向更准确
最后,虽然有很多文章上面描述了从PXRD的pattern上面来推测纳米带的生长方向,这只是经验主义的论断,二者并没有严格地逻辑关系,事实上,取向的强弱完全可以在你实验测试的时候人为一定程度的控制。
建议楼主不要把这种经验的东西写在文章里面凑字数,用严格地态度来处理问题更好,而且,高度取向的样品往往会掩盖掉很多细节的信息,如果你想进一步进行深入的性质或者应用的研究,制备这一步还是扎实一点为妙吧。
11楼2007-12-17 10:06:28
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caolu1314155

铁虫 (小有名气)

非常感谢你的耐心解答
但是我希望你尊重一下别人的劳动
比如"凑字数""扎实""严格态度"之类的话少说为好
尊重别人尊重自己
你这么主观,是不是你一直都是凑字数呢/>
这里是讨论问题的地方]不是你随便评论别人的地方
再说了,论文有字数要求么?无聊
12楼2007-12-17 11:45:08
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iphyaries

铁杆木虫 (小有名气)

判断择优取向最简单的就是用二维探测器

择优取向导致德拜环不均匀或者不连续
现在有的高档衍射仪上配了二维探测器
可以直接收集整个德拜环的信息
有没有择优取向一下就能看出来
非常方便
Ineedlearnmore...
13楼2007-12-17 14:08:53
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caolu1314155

铁虫 (小有名气)

谢谢了
学习
14楼2007-12-17 15:37:03
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