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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
10楼: Originally posted by yuan999 at 2013-10-25 10:53:08
这个可以的，SEM，TEM不就是这么干的吗,用软件画框框，然后在旁边附放大图

谢谢 我试试
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11楼2013-10-28 20:01:18
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
9楼: Originally posted by 大水杯 at 2013-10-24 22:33:57
可以的，Bruker附带的数据处理软件都可以选不同区域计算表面粗糙度

弱弱的请求下，可以告诉我是哪个图标么 有打开软件自带的help文件，没有看到
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12楼2013-10-28 20:02:35
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大水杯

木虫 (著名写手)

小虫
引用回帖:
12楼: Originally posted by 暖暖的SY at 2013-10-28 20:02:35
弱弱的请求下，可以告诉我是哪个图标么 有打开软件自带的help文件，没有看到...

是单独的一个软件，叫什么Nanoanalysis
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^V^
13楼2013-10-28 22:27:10
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
13楼: Originally posted by 大水杯 at 2013-10-28 22:27:10
是单独的一个软件，叫什么Nanoanalysis...

恩好的 谢谢
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14楼2013-10-29 18:35:36
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