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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)

[求助] AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗

先请教一下，由于我在测AFM时是整体扫的，但是现在需要不同区域的粗糙度，请问在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗？如何操作
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1楼 2013-10-22 09:44:47
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

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★
暖暖的SY: 金币+1, ★有帮助 2013-10-23 15:44:05
应该都可以的，你找找说明书或者帮助吧
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6楼2013-10-22 14:30:52
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
暖暖的SY: 金币+1, ★★★很有帮助 2013-10-23 15:43:06
可以,但要有原始数据,这个和仪器品牌有关,建议回去联系给你测的实验室操作人员
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2楼2013-10-22 10:40:51
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david0404

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
暖暖的SY: 金币+1 2013-10-23 15:43:19
这个当然可以啊，我们是vecco的AFM，看下说明书就会了，可以任意选取区域测量粗糙度
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3楼2013-10-22 13:50:16
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-10-22 10:40:51
可以,但要有原始数据,这个和仪器品牌有关,建议回去联系给你测的实验室操作人员

我这有离线软件和当时扫的数据，布鲁克的AFM可以吗
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4楼2013-10-22 14:22:17
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