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阻抗测试时,频率范围是否有非常大的影响?
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stormxuhao
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阻抗测试时,频率范围是否有非常大的影响?
我用的是CHI660D,每次用来测EIS的时候,发现在10E4~10E5的范围内,点非常凌乱,没有任何规律可言。但是如果把这一段去掉,只测试10E-2~10E4,曲线就还行,比较规律。
我的问题是,如果我只测试10E-2~10E4,而且能够说明我需要表达清楚的问题,是否可以?有没有必要非要测到10E5?如果这样的数据写文章的话,审稿人有没有可能就这一点来质询?
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1楼
2013-10-09 10:16:58
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2楼
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Originally posted by
Jackcd12
at 2013-10-09 10:26:32
如果仪器没有问题,在高频端出现乱点主要与样品表面不均匀(污染,微孔,夹杂有空气等)有关。
频率的选择与你关系样品的哪方面的特性有关,一般频率>10E4主要反映的是双电层结构特性,如果主要关心电极表面的 ...
电极表面析出气体是不是也会造成您说的这种表面不均匀现象?
但是如果把电位设置的比较高的话,只是高频会出问题,低频的部分看着点还行,不算太差。这又可能是什么原因?
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4楼
2013-10-09 12:15:32
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2013-10-09 11:13:58
如果仪器没有问题,在高频端出现乱点主要与样品表面不均匀(污染,微孔,夹杂有空气等)有关。
频率的选择与你关系样品的哪方面的特性有关,一般频率>10E4主要反映的是双电层结构特性,如果主要关心电极表面的电荷转移信息,频率最高到10E4也足够了。
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Themoreamanlearns,themoreheknowshisignorance!
2楼
2013-10-09 10:26:32
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很有帮助, 感谢!
2013-10-09 11:13:37
没关系,只要你高频半圆测全即可。
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3楼
2013-10-09 10:53:03
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很有帮助, 多谢
2013-10-09 13:26:28
气泡析出影响测试是可能的,析出快对低频影响小但对高频影响就比较大。
至于偏置电压的问题,那要看你的电极在高的电压下表面可能发生反应了。
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Themoreamanlearns,themoreheknowshisignorance!
5楼
2013-10-09 12:52:42
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