24小时热门版块排行榜    

查看: 1560  |  回复: 16
当前主题已经存档。
当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖

yhp1008

铁杆木虫 (正式写手)

[交流] 怎么测试薄膜的厚度

最近要用PECVD法制备氧化物薄膜,因为以前没接触过这个领域,请问用什么方法可以测试薄膜的厚度?该厚度大约是200nm以内,湖南有哪些单位可以进行厚度的测试?谢谢各位虫子了!
回复此楼

» 猜你喜欢

已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

Rainycc

木虫 (著名写手)

引用回帖:
Originally posted by shiningx at 2007-11-29 12:40:
台阶仪应该是最好的。
原子力显微镜、石英晶体振荡法、称量法、光干涉法、椭偏仪法以及X射线好像都是可以的。但是还是台阶仪和AFM比较实用,个人觉得。

AFM测厚度恐怕不是比较使用的办法,这个可能会耗费针尖,而且测试区域太小实验数据的可靠性不能保证。称量法就更别说了,就是吸附产生的偏差就足够使结果有好几倍的误差,椭圆仪可以试试,石英晶体微天平倒是可以,不过还是误差的问题。如果是透明膜或者是半透明的膜可以用干涉法,紫外干涉法就可以测试。如果知道氧化物的元素含量及氧化物纯度,建议采用XRF的办法,这样可以不用破坏膜层,就可以得到膜层的厚度。用SEM断面法也是个不错的办法,这个使用于材料的延展性较差的膜层。
9楼2007-11-30 10:08:49
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 17 个回答

cmf0001

铜虫 (小有名气)

椭偏仪和反射光谱很方便


3040821025(金币+1,VIP+0):谢谢提供!
椭偏仪和反射光谱很方便
2楼2007-11-29 11:20:13
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

Tavano

铁杆木虫 (正式写手)

厚度测试方法:椭偏仪、台阶仪、SEM观察截面
3楼2007-11-29 11:21:41
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

miloyy

木虫 (正式写手)

补充一下XRR,X-ray reflectivity
4楼2007-11-29 12:23:16
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
普通表情 高级回复 (可上传附件)
信息提示
请填处理意见