| 查看: 1499 | 回复: 0 | |||
[交流]
不同晶振对膜厚测量的影响问题
|
|
在做镀膜实验时，换了新的晶振，是否要重新表征一次膜厚。请高人指点 啊！ 我们换了新的晶振后，做的实验自己觉得膜厚偏厚了，有这种可能吗？谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
售SCI一区T0P文章，我:8.O.55.1.O.5.4,科目全,可+急
已经有5人回复
-
2027博士申请-临床检验诊断学、病原生物学、微生物方向
已经有5人回复
-
【长期招聘】复旦大学 AI 制药实验室 博士后招聘
已经有10人回复
-
各位基础老师们，看完中央《从严治党》的决定后，对学术界更加有信心了吧
已经有4人回复
-
越来越担心硕士毕业后没有竞争力了
已经有15人回复
-
申博自荐 2篇一区TOP+1篇EI+2公开发明专利 2027博士申请
已经有3人回复
找到一些相关的精华帖子，希望有用哦~
膜厚度的测量问题
已经有12人回复
- 【求助】薄膜厚度和薄膜密度怎么测量啊
已经有4人回复
- 【求助】锡膏 与导电银胶 有什么区别？【无重复】
已经有7人回复
点击这里搜索更多相关资源科研从小木虫开始，人人为我，我为人人