| 查看: 286 | 回复: 0 | ||
[求助]
椭偏测厚度时的数据拟合
|
| 我采用gaertner ellipsometer L116测了聚合物薄膜的厚度，直接把相关参数输进去，软件会自动计算出厚度，但审稿人问采用什么模型计算出的厚度？请各位高手帮忙啊，谢谢了 |
回复此楼» 猜你喜欢
听说今天filecode变了
已经有33人回复
-
基金中了
已经有6人回复
-
filecode
已经有14人回复
-
固定端突然变了，今天
已经有7人回复
-
filecode
已经有11人回复
-
大家散了吧，后缀研究没有意义，别浪费时间了，过好目前的每一天，不要焦虑
已经有6人回复
-
一个有机合成实验室都需要哪些设备？
已经有12人回复
-
求各位大神看下
已经有33人回复
-
咨询面上基金
已经有7人回复
-
影响面上的因素
已经有11人回复
找到一些相关的精华帖子，希望有用哦~
薄膜厚度测试方法精准度
已经有15人回复
- 哪里能测量薄膜折射率啊
已经有8人回复
- 【请教】请教一下用椭偏仪测过折射率的朋友们
已经有5人回复
- 【求助】有没有人做过椭偏仪的，指点一下？
已经有7人回复
- 【交流】测量半导体薄膜的带隙
已经有21人回复
- 【求助】如何由透射光谱拟合得到参数
已经有17人回复
点击这里搜索更多相关资源科研从小木虫开始，人人为我，我为人人
50