| 查看: 951 | 回复: 1 | ||
[求助]
用AFM测器件表面功率谱密度时采样点数的影响 已有1人参与
|
|
对物品的平滑度要求很高，需要知道特定Si片的功率谱密度分布，于是用AFM进行了测量，发现在扫描区域相同，其他参数设置相同，仅采样点数不同时得到的功率谱密度有非常明显的区别。如下图（采样点分别为512及1024，对数值进行了log处理） 在高频部分的突起我理解为针横向移动出现的虚假PSD数值，但是可以发现在低频部分PSD值也有非常大的区别（如MATLAB画图结果的截图，此处已将数值还原成非log处理）。想不清楚这是什么原因造成的，另外：到底哪个是正确的呢？  PSD-1024.png  compare_red1024_blue512.png  PSD-512.png [ Last edited by iris6550 on 2013-8-14 at 16:17 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
修改论文，如何借助其他力量？
已经有4人回复
-
中山大学潘越教授课题组2027级推免硕士研究生招生 新增一个专业医学技术名额
已经有21人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有284人回复
-
哈尔滨工程大学国家级青年人才-27年申请考核制博士招生（材料、化学、生物医学专业）
已经有13人回复
-
HRTEM/原位TEM/HRSTEM检测｜价格优·周期短·可加急
已经有0人回复
-
大家平时也可以交流下
已经有1人回复
-
ELSEVIER旗下投稿decision in process后with editor，应该如何理解
已经有45人回复
encounteryou
金虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 530.3
- 帖子: 93
- 在线: 72.5小时
- 虫号: 3158942
- 注册: 2014-04-23
- 专业: 无机非金属类光电信息与功
2楼2014-11-05 09:33:42
