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fimer

木虫 (小有名气)

[交流] TEM 中的能谱分析和XPS测元素的精确度比较?

相知道用TEM中的能谱测材料的元素种类和含量,也用XPS测量,哪个结果更可靠呢?
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bachier

金虫 (职业作家)

准确来说


fzfscn(金币+1,VIP+0):谢谢您的回答!
准确来说
xps测量的精度好些,他能够分析非常非常微量的元素,这点要比tem的能谱好多了
有时候你想测量某种元素用tem的能谱不行,因为含量太低,但是xps可能就可以。
我分析纳米颗粒的外层物质,用tem能谱打了几次都不行,用xps就成。

含量准确来说,两种方法都不是很准确,只能作为一个辅助的表征手段,不能用作精确的分析。同样一个样品,你测量不同的地方,可能值都不一样。
2楼2007-11-04 07:28:59
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fimer

木虫 (小有名气)

谢谢呀!也有同样的感受
3楼2007-11-04 16:38:52
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chinagrass

铜虫 (初入文坛)

补充2楼一点,xps是测量样品整体的,一般来说测量范围为上百微米宽,毫米长的一个区域,但是深度不会超过10纳米。所以可重复性没问题。如果粉体样品连xps可重复性都很差,那估计是非常不均匀了(该扔了:-)。所以尽管是半定量的,还是很有说服力的。

tem是测量点的,很小的点,不会到微米,所以纳米材料电镜下什么都可能找到。可重复性比较差。
4楼2007-11-04 21:40:46
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