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高手指点如何用XRD测定马氏体中的位错密度?需要具体测量方法和计算公式?
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| 高手指点如何用XRD测定马氏体中的位错密度?需要具体测量方法和计算公式?本人不是材料出身,许多东西不懂。 |
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【答案】应助回帖
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小咚咚: 金币+20 2013-12-07 08:10:47
小咚咚: 金币+20 2013-12-07 08:10:47
| 利用x衍射线形分析可以得出,比较常见的方法有integral breadth method(包含williamson-hall 和warren-bach分析,感觉不是特别精确,主要基于半高宽和傅里叶分析), variance method(建议楼主收收 Andras borbely的文章,相应的软件我有,能够较精确的得到位错密度 并确定x衍射宽化来源贡献) 还有就是基于全谱拟合的方法(主要参阅ribarik的文章,软件可以从网上下载,感觉还是比较靠谱的),至于文献方面,多多查阅 ungar,borbely,picardi还有ribarik的文章,肯定会有所帮助 |
2楼2013-12-06 14:33:14
小咚咚
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3楼2013-12-07 08:12:20
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