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小咚咚至尊木虫 (著名写手)
钢铁侠
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高手指点如何用XRD测定马氏体中的位错密度？需要具体测量方法和计算公式？
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| 高手指点如何用XRD测定马氏体中的位错密度？需要具体测量方法和计算公式？本人不是材料出身，许多东西不懂。 |
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【答案】应助回帖
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小咚咚: 金币+20 2013-12-07 08:10:47
小咚咚: 金币+20 2013-12-07 08:10:47
| 利用x衍射线形分析可以得出，比较常见的方法有integral breadth method（包含williamson-hall 和warren-bach分析，感觉不是特别精确，主要基于半高宽和傅里叶分析）， variance method（建议楼主收收 Andras borbely的文章，相应的软件我有，能够较精确的得到位错密度 并确定x衍射宽化来源贡献） 还有就是基于全谱拟合的方法（主要参阅ribarik的文章，软件可以从网上下载，感觉还是比较靠谱的），至于文献方面，多多查阅 ungar，borbely，picardi还有ribarik的文章，肯定会有所帮助 |
2楼2013-12-06 14:33:14
小咚咚
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3楼2013-12-07 08:12:20
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4楼2017-04-21 15:38:52
