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Jane007

金虫 (小有名气)

[求助] 请问Mott-shoctkey 曲线的测试条件

如题,用的测试设备是CHI660,请问如何确定Mott-shoctkey 曲线的测试条件呢?比如测试电压范围,电压的扫描方向(如:从-1.0V~1.0V,还是从1.0V~-1.0v呢?)测试的频率,电解液的选择等?是不是不通材料的电压范围、电压扫描方向、测试频率不一样啊?

跪求有经验的人解答啊。谢谢了!
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Jackcd12

至尊木虫 (知名作家)

【答案】应助回帖

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417491817: 金币+2, 鼓励虫虫多多交流!O(∩_∩)O~ 2013-07-11 12:36:28
Jane007: 金币+3 2013-07-11 21:54:01
M-S测量的电解液,根据你的材料可能要应用的环境来确定。电位扫描范围,如果没有任何概念和信息帮助你确定的话,先尝试在开路电位正负0.8V左右,从负到正方向扫描,交流信号的频率一般在1KHz to 20KHz都可以试验,你有时间的话,可以比较三个频率:1KHz, 5, 10KHz, 比较M-S曲线变化大小,如果5 和10KHz的曲线没有太大变化,以后就用5kHz。
Themoreamanlearns,themoreheknowshisignorance!
2楼2013-07-11 12:18:14
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
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Jane007: 金币+3 2013-07-11 21:53:37
CHI强烈不建议用来测交流阻抗包括MS曲线,数据非常不可靠,CHI的交流模块系统做的太简陋,信号发生器啥的都不行的
3楼2013-07-11 12:53:11
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windyswust

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

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Jane007: 金币+4 2013-07-11 21:53:51
首先 楼上确实说的对,CHI的阻抗数据确实很多人不是很相信,因而,你在做M-S的时间一定要多做几次,找到高的重复性,去掉坏点,我做的时间总有坏点,估计某个频率下失常,多做几次。
第二,至于说到底取什么电压,你要先调查下文献,半导体电化学中有介绍,找到材料耗尽层的数据。半导体的界面一般反型层,富集层,耗尽层。找到你有用的层间区域,然后确定在某个电位区间,具有M-S特性,那么这段数据就是可靠的。楼上说的方法很好,但是要根据原理的话,你肯定要首先M-S的特性区间。个人愚见,如有错误,敬请指明,互相学习(我说的是薄膜电极的应用)
一步一个脚印
4楼2013-07-11 13:41:40
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Jane007

金虫 (小有名气)

谢谢楼上各位同仁,你们说的非常有用,我先消化消化,以后多多交流!
5楼2013-07-11 21:53:13
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