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aishanshan

铁虫 (初入文坛)

[求助] 关于纳米硅FTIR的分析表征,使用origin7.5

测试回来的FTIR谱是透射谱,峰位是倒置的。怎样用基线使其正过来,变成文献上那种能分析H键合,计算H含量的正置的FTIR谱。希望给出详细的origin处理步骤,谢谢
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好好加油
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xzb328

木虫 (知名作家)

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是不是基线的问题,可以同时加上某一个数值进行修改吗?
xinruzhishui
2楼2013-05-09 08:49:04
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aishanshan

铁虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by xzb328 at 2013-05-09 08:49:04
是不是基线的问题,可以同时加上某一个数值进行修改吗?

基线也是问题,不知道你想修改什么。我的问题就是我们测出的纳米硅薄膜的红外是倒着的,透射率是纵坐标。就是通过基线和公式把它正过来而且纵坐标是吸收强度那种。
好好加油
3楼2013-05-09 11:19:11
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xzb328

木虫 (知名作家)

4楼2013-05-09 14:11:56
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)

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朗伯比尔转换一下就行了,注意百分数
5楼2013-05-09 14:25:28
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