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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » 关于纳米硅FTIR的分析表征，使用origin7.5
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aishanshan

铁虫 (初入文坛)

[求助] 关于纳米硅FTIR的分析表征，使用origin7.5

测试回来的FTIR谱是透射谱，峰位是倒置的。怎样用基线使其正过来，变成文献上那种能分析H键合，计算H含量的正置的FTIR谱。希望给出详细的origin处理步骤，谢谢
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好好加油
1楼 2013-05-09 01:01:59
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
朗伯比尔转换一下就行了，注意百分数
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5楼2013-05-09 14:25:28
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xzb328

木虫 (知名作家)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
是不是基线的问题，可以同时加上某一个数值进行修改吗？
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xinruzhishui
2楼2013-05-09 08:49:04
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aishanshan

铁虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by xzb328 at 2013-05-09 08:49:04
是不是基线的问题，可以同时加上某一个数值进行修改吗？

基线也是问题，不知道你想修改什么。我的问题就是我们测出的纳米硅薄膜的红外是倒着的，透射率是纵坐标。就是通过基线和公式把它正过来而且纵坐标是吸收强度那种。
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好好加油
3楼2013-05-09 11:19:11
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