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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 交流互助 » 磁控溅射再玻璃衬底上制备薄膜为什么做XRD测试时候测不出相应的峰呢？
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HHBWF

禁虫 (小有名气)
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11楼2013-04-14 22:38:05
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yao366

新虫 (小有名气)
★
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我也认为是薄膜太薄了 ，正常扫收集到的信号太弱了，都是玻璃的信号，玻璃又是非晶的没有明显的衍射峰。所以建议你把溅射时间延长，然后做个掠入射。
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12楼2013-04-14 23:36:52
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minglight9

铁杆木虫 (著名写手)

工程师
★
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引用回帖:
5楼: Originally posted by ljw1202 at 2013-04-14 21:33:42
太薄了吧

这个观点我赞同。我也有过此类经历。
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再牛逼的肖邦也弹不出老子的悲伤。
13楼2013-04-15 00:26:24
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HHBWF

禁虫 (小有名气)
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14楼2013-04-15 09:36:26
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zcq4891

木虫 (小有名气)
★
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先测一下厚度在做XRD，太薄了很难测出的
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15楼2013-04-15 11:28:16
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Jason-wong

至尊木虫 (职业作家)
★
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薄膜信息被覆盖，建议去做GIXRD
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16楼2013-04-15 12:46:06
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陈勇跃

金虫 (正式写手)
在Si上长
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17楼2013-04-15 13:24:48
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laymanyanfuxue

金虫 (小有名气)
★
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首先应该采用掠入射法测试；
其次请再次确认薄膜的厚度（小于50纳米有时候掠入射也很难测得出来）；
最后实在不行要对得到的样品进行热处理，这样基本就会有结果。
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18楼2013-04-15 20:53:39
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HHBWF

禁虫 (小有名气)
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19楼2013-04-15 22:18:28
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Smallpeng

木虫 (正式写手)
可能是太薄了
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勇敢自信踏实，科研其实和生活是一样一样的
20楼2013-04-16 09:16:54
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