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Angusskanal

木虫 (小有名气)

[求助] 铜箔上长graphene,最好的测试方法是什么?

我的理解是,
AFM的话,铜箔不平容易坏针,我错了?
SEM的话,辨认不出哪里是石墨烯哪里是铜,看不出高与低,我错了?
拉曼的话,看不了graphene的面积,也不能看domain,我错了?

请问大神,最好的测试是什么呢?我们刚起步,还没开始做转移,谢谢。
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为科研奋斗终生
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mateng_0902

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
转移到硅片上,这些问题都可以解决
3楼2013-04-09 11:02:42
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查看全部 7 个回答

鹰羽龙

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
Angusskanal: 金币+2, 有帮助 2013-04-09 18:31:34
看面积看高度必须AFM
2楼2013-04-08 19:49:53
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kongjzh

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖


感谢参与,应助指数 +1
Angusskanal: 金币+1, 有帮助 2013-04-09 18:34:15
楼上说的对
CVD生长时用Cu箔,graphene对Cu箔的要求高
之后再转移到其他衬底上(根据相应的要求,选择不同的衬底)
多向有经验的人请教转移过程
4楼2013-04-09 11:26:36
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cromwellking

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
Angusskanal: 金币+3, 有帮助 2013-04-09 18:34:31
你应该长成连续的石墨烯膜了,就是在铜箔上覆盖满了。如果是分立的graphene domian是可以用SEM进行观察的。
对于拉曼的话我建议你可以扫一个一定区域的mapping看看质量与均匀性。

同时我觉得上面讲的有问题,如果你光光要看graphene形貌,转移至表面有300nmSiO2的Si片上,直接看光学显微镜就能将石墨烯区域,是否有多层等看的清清楚楚。
不建议做AFM,应为你铜箔粗糙度太大,石墨烯就很薄的一层,衬底粗糙度导致你是很难测出来的。必须进行转移,而现有的PMMA转移工艺转移结束以后又去除不干净PMMA。所以你要用AFM表面必然很脏,而且你要用AFM测层数也是很难的,应为边界残余PMMA会导致测出来的结果很厚,偏离实际值。
5楼2013-04-09 13:04:23
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