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林艺224铜虫 (小有名气)
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[求助]
XRD用织构系数来判断材料表层结构的取向变化？？
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材料在经过处理后，晶体学取向发生改变. 可以用织构系数Thkil来判断处理后表层结构的取向变化。 I_hkil是{hkil}晶面的衍射强度, I_hkil^0是未处理样品{hkil}面的衍射强度, n为考虑的衍射峰的数目. 当所有反射面的I_hkil都相等时, 样品中各晶向没有择优取向. 若某一反射面的I_hkil＞1, 则说明该晶面在辐照处理后出现择优取向. 请问： 1. “当所有反射面的Ihkl都相等时，……，没有择优取向”，任何一种结构不可能所有的Ihkl都相等，这句话有什么意义？ 2. 为什么定义Ihkl＞1，出现则优取向，依据是什么？  织构系数计算公式.jpg |
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3楼2013-04-08 16:56:40
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4楼2013-04-08 20:56:03
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