| 查看: 1190 | 回复: 0 | |||
[求助]
求助，各位大虾，这张FTIR图谱中能看出拿几个位置的特征峰，杂峰略多
|
|
样品是在衬底（180μm）表面用PECVD沉积了80nm左右厚度的SiNx薄膜，考虑的是薄膜的钝化效果，钝化效果直接由薄膜中的H含量决定，所以我想知道薄膜里面的SI-H N-H SI-N的含量 希望大侠有所指教  IMG_0054.JPG |
回复此楼» 猜你喜欢
求助一下有机合成大神
已经有4人回复
-
拟解决的关键科学问题还要不要写
已经有8人回复
-
请教限项目规定
已经有5人回复
-
最失望的一年
已经有16人回复
-
存款400万可以在学校里躺平吗
已经有33人回复
-
求推荐英文EI期刊
已经有5人回复
-
26申博
已经有3人回复
-
基金委咋了？2026年的指南还没有出来？
已经有10人回复
-
疑惑？
已经有5人回复