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椭谱仪测膜的厚度
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| 大家好，本人目前想用椭谱仪测自组装膜的厚度，其中基底是硅片，然后通过在硅片上面一层层组装其他的高分子，现在遇到的问题就是我不知道应该怎么去fit我的结果，我的意思是将测的结果通过fit转换为厚度。我知道这个是和选择的模型以及高分子的折射率相关的，我想请问下在这个方面有没有什么特别的规律，比如模型的选择，以及如何去fit等。有没有哪位有关于这方面的应用的具体操作指栏呢，如果有麻烦发给我啊，非常感谢！ |
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