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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 计算模拟区 » 第一性原理 » MS » 缺陷形成能
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zikingma

银虫 (初入文坛)

[求助] 缺陷形成能 已有1人参与

缺陷形成能的计算公式为：∆Ef= ∆Etot (defect) - ∆Etot (pure) - ni Ei
式中，∆Ef表示缺陷形成能；∆Etot(defect)表示存在缺陷的体系总能量；∆Etot(pure)表示完整晶胞的体系总能量；ni表示缺陷原子个数，Ei表示缺陷的单个原子势能。
请教三个问题：
1. 表示缺陷形成能∆Ef的绝对值越小是不是表示越容易形成；
2. 表示缺陷形成能∆Ef正负性表示什么现象，比如为正的时候是吸热还是放热；
3. ni表示的是缺陷的原子个数，是不是固溶为正号，空位为负号？
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1楼 2013-03-25 23:18:43
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shmilylxc

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
缺陷形成能越低表示缺陷越容易形成。负号代表形成的过程是放热的，即形成缺陷之后的能量比以前更低。
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2楼2013-03-26 09:17:00
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sungjen

银虫 (著名写手)
引用回帖:
2楼: Originally posted by shmilylxc at 2013-03-26 09:17:00
缺陷形成能越低表示缺陷越容易形成。负号代表形成的过程是放热的，即形成缺陷之后的能量比以前更低。

“缺陷形成能越低表示缺陷越容易形成”    请问这个是指绝对值大小吗？？
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希望有一天成为大神
3楼2014-01-05 15:52:25
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sungjen

银虫 (著名写手)
请问你说的原子势能是指在空的晶胞内添加一个原子算的能量吗？
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希望有一天成为大神
4楼2014-01-05 16:01:35
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前田庆次

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★
franch: 金币+2, 鼓励交流。 2014-01-06 22:09:21
1. 表示缺陷形成能∆Ef的绝对值越小是不是表示越容易形成；
2. 表示缺陷形成能∆Ef正负性表示什么现象，比如为正的时候是吸热还是放热；
3. ni表示的是缺陷的原子个数，是不是固溶为正号，空位为负号？
按照您给出的公式，如果∆Ef为负，表示为放热过程，则体系是稳定的，也就是说，绝对值越大，体系越容易形成，第三个问题我不知道，以上个人经验，希望对您有帮助
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长枪一横花飘零，松风追月伴我行。无双人间世如梦，倾奇万世永留名。
5楼2014-01-06 13:19:36
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