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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 功能薄膜 » XRD做phi 扫描的倾斜角度
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cdj2593

木虫 (正式写手)

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[求助] XRD做phi 扫描的倾斜角度

请问XRD做phi scan的倾斜角度是如何确定的，我看好多帖子(http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1526925)都说是要扫的面和生长面的夹角，但是我看的几篇文献都是倾斜角度为54.7，尽管基底和薄膜都不一样的。难道54.7是通用的？请指教，谢谢，附件是我看的其中一篇文献
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1楼 2013-03-22 22:52:38
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竹林风bamboo

新虫 (小有名气)
如果你测试的样品是（100）织构，那么测量时就有可能需要选择其他衍射晶面作为应力测试，比如你选择了111，那么在做sin2psin,扫描时，psin=54.7就会使得扫描的衍射峰出现极大值，便于最后结果计算。
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天道酬勤
8楼2014-08-21 21:16:10
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wu1008

金虫 (著名写手)
你确定这些基片和薄膜沒共性？
看文章要认真！

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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2楼2013-03-24 01:52:20
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cdj2593

木虫 (正式写手)

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引用回帖:
2楼: Originally posted by wu1008 at 2013-03-24 01:52:20
你确定这些基片和薄膜沒共性？
看文章要认真！

请您指教，我是没看出来共性才来这里问的，所以如果您知道的话，何不直接告诉呢
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3楼2013-03-24 13:28:48
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wu1008

金虫 (著名写手)
汗，既然说没有共性，总得要有点证据，总得要告诉人你看的文章是什么基片什么薄膜。就这样说，有什么信息量？

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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4楼2013-03-24 15:07:56
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