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关于XPS深度剖析,审稿人的问题没看懂
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“The elements on the surface of the samples in the different depth were analyzed. The detailed methods, such as depth profiling by using Ar ion gun or change take-off?” 请问"change take-off"是什么意思? 论文中测试了聚丙烯样条(厚4mm)表面的XPS,还将样条分别切去0.7mm,1.4mm,分别测试了这两个切面的XPS。对XPS不是十分熟悉,只知道能够测试元素含量。 Ar ion gun只能测试到1μm厚度的深度吧?审稿人是不是以为我是用Ar ion gun测试的这几个不同的深度表面的XPS? 实在不知道想问的是什么,麻烦各位帮忙分析下!不胜感激! |
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2楼2013-03-21 18:49:09













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