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关于XPS深度剖析，审稿人的问题没看懂
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“The elements on the surface of the samples in the different depth were analyzed. The detailed methods, such as depth profiling by using Ar ion gun or change take-off?” 请问"change take-off"是什么意思？ 论文中测试了聚丙烯样条（厚4mm）表面的XPS，还将样条分别切去0.7mm,1.4mm，分别测试了这两个切面的XPS。对XPS不是十分熟悉，只知道能够测试元素含量。 Ar ion gun只能测试到1μm厚度的深度吧？审稿人是不是以为我是用Ar ion gun测试的这几个不同的深度表面的XPS？ 实在不知道想问的是什么，麻烦各位帮忙分析下！不胜感激！ |
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