| 查看: 406 | 回复: 0 | |||
[求助]
硅基太阳能电池PECVD减反射钝化膜（氮化硅）中的键含量测试
|
|
在许多文献看到用FT-ir测试薄膜中的键浓度，主要是Si-H、N-H，但是测试样品如何制备没有相信说明，用过一次三氯氧磷扩散、PECVD镀膜后的硅片去测的，振动峰很杂，跟文献上完全不同，有大牛解惑下么？ 主要目的： 1.主要考虑到膜的钝化效果（H对悬挂键、缺陷的钝化），所以想得到H键的浓 度（%）； 2.薄膜中有哪些化学键； 请问： 1.样品制备的要求（基底硅不能扩散？需要较高的电阻率和厚度？） 2.达到目的有没有更好的测试方法； 谢谢大牛为我指导一二。。 |
回复此楼» 猜你喜欢
写了一篇“相变储能技术在冷库中应用”的论文，论文内容以实验为主，投什么期刊合适？
已经有3人回复
-
需要合成515-64-0，50g，能接单的留言
已经有3人回复
-
最近几年招的学生写论文不引自己组发的文章
已经有10人回复
-
中科院杭州医学所招收博士生一名（生物分析化学、药物递送）
已经有3人回复
-
临港实验室与上科大联培博士招生1名
已经有8人回复
-
26申博自荐
已经有7人回复
-
想换工作。大多数高校都是 评职称时 认可5年内在原单位取得的成果吗？
已经有4人回复
-
带资进组求博导收留
已经有9人回复
-
求助大佬们，伤口沾上了乙腈
已经有6人回复