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禁虫 (小有名气)

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wbcui

至尊木虫 (知名作家)

【答案】应助回帖

y = a + b
y是你从磁性测量中得到的磁化强度数值
a是背底信号,就是你的玻璃基地
b是从你的样品贡献的磁化强度。

你需要用同样测程序测薄膜样品的loop和玻璃基地的loop(这个loop一般是线性的)

两者之差便是薄膜贡献的磁化强度。

同时,你要确保你样品的基片大小和单独测量玻璃基片的大小是相等的,不想的话换算一下,玻璃基片的磁距正比于其面积,如果厚度都一样的话。
8楼2013-03-12 16:19:51
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禁虫 (小有名气)

zhaohaixing: 欢迎新虫来功能材料版交流~~~ 2013-03-09 14:45:16
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2楼2013-03-08 18:24:10
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禁虫 (小有名气)

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3楼2013-03-10 20:22:09
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luckydog2006

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖


nofrunolif: 金币+1, 感谢交流 2013-03-11 21:41:45
你的想法是对的。先测量一个玻璃基底的数据,存为背景文件,然后测薄膜的数据,VSM中有一个扣除背景的功能。
4楼2013-03-11 14:10:59
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