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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 磁性材料 » 请问基底的磁性与薄膜的磁性如何拟合?
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禁虫 (小有名气)
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1楼2013-03-07 21:20:57
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禁虫 (小有名气)
zhaohaixing: 欢迎新虫来功能材料版交流~~~ 2013-03-09 14:45:16
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2楼2013-03-08 18:24:10
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禁虫 (小有名气)
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3楼2013-03-10 20:22:09
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luckydog2006

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★
nofrunolif: 金币+1, 感谢交流 2013-03-11 21:41:45
你的想法是对的。先测量一个玻璃基底的数据，存为背景文件，然后测薄膜的数据，VSM中有一个扣除背景的功能。
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4楼2013-03-11 14:10:59
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禁虫 (小有名气)
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5楼2013-03-11 16:12:03
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wbcui

至尊木虫 (知名作家)
引用回帖:
5楼: Originally posted by HHBWF at 2013-03-11 17:12:03
十分感谢 请问你用SQUID测过么？SQUID有这个功能么？或者如果没有的话 我分别测试样品的数据 和玻璃衬底的数据 然后再用origin拟合可以实现么？...

显然需要在origin中先扣除背底啊
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6楼2013-03-11 19:54:51
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7楼2013-03-12 13:28:28
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wbcui

至尊木虫 (知名作家)

【答案】应助回帖

y = a + b
y是你从磁性测量中得到的磁化强度数值
a是背底信号，就是你的玻璃基地
b是从你的样品贡献的磁化强度。

你需要用同样测程序测薄膜样品的loop和玻璃基地的loop（这个loop一般是线性的）

两者之差便是薄膜贡献的磁化强度。

同时，你要确保你样品的基片大小和单独测量玻璃基片的大小是相等的，不想的话换算一下，玻璃基片的磁距正比于其面积，如果厚度都一样的话。
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8楼2013-03-12 16:19:51
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禁虫 (小有名气)
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9楼2013-03-12 19:47:38
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wu1008
引用回帖:
4楼: Originally posted by luckydog2006 at 2013-03-11 14:10:59
你的想法是对的。先测量一个玻璃基底的数据，存为背景文件，然后测薄膜的数据，VSM中有一个扣除背景的功能。

汗

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
10楼2013-03-12 23:41:26
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