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禁虫 (小有名气)

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HHBWF

禁虫 (小有名气)

zhaohaixing: 欢迎新虫来功能材料版交流~~~ 2013-03-09 14:45:16
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2楼2013-03-08 18:24:10
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HHBWF

禁虫 (小有名气)

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3楼2013-03-10 20:22:09
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luckydog2006

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖


nofrunolif: 金币+1, 感谢交流 2013-03-11 21:41:45
你的想法是对的。先测量一个玻璃基底的数据,存为背景文件,然后测薄膜的数据,VSM中有一个扣除背景的功能。
4楼2013-03-11 14:10:59
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HHBWF

禁虫 (小有名气)

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5楼2013-03-11 16:12:03
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wbcui

至尊木虫 (知名作家)

引用回帖:
5楼: Originally posted by HHBWF at 2013-03-11 17:12:03
十分感谢 请问你用SQUID测过么?SQUID有这个功能么?或者如果没有的话 我分别测试样品的数据 和玻璃衬底的数据 然后再用origin拟合可以实现么?...

显然需要在origin中先扣除背底啊
6楼2013-03-11 19:54:51
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HHBWF

禁虫 (小有名气)

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7楼2013-03-12 13:28:28
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wbcui

至尊木虫 (知名作家)

【答案】应助回帖

y = a + b
y是你从磁性测量中得到的磁化强度数值
a是背底信号,就是你的玻璃基地
b是从你的样品贡献的磁化强度。

你需要用同样测程序测薄膜样品的loop和玻璃基地的loop(这个loop一般是线性的)

两者之差便是薄膜贡献的磁化强度。

同时,你要确保你样品的基片大小和单独测量玻璃基片的大小是相等的,不想的话换算一下,玻璃基片的磁距正比于其面积,如果厚度都一样的话。
8楼2013-03-12 16:19:51
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HHBWF

禁虫 (小有名气)

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9楼2013-03-12 19:47:38
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引用回帖:
4楼: Originally posted by luckydog2006 at 2013-03-11 14:10:59
你的想法是对的。先测量一个玻璃基底的数据,存为背景文件,然后测薄膜的数据,VSM中有一个扣除背景的功能。



[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
10楼2013-03-12 23:41:26
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