| 查看: 1071 | 回复: 11 | ||
| 【奖励】 本帖被评价10次，作者gyliu增加金币 7.5 个 | ||
| 当前主题已经存档。 | ||
[资源]
X射线粉末衍射的新起点 - Rietveld全谱拟合
|
||
|
"X射线粉末衍射的新起点 - Rietveld全谱拟合" 是马礼敦老师1996年写的一篇综述，对于初学Rietveld拟合精修的朋友来说，这是一篇非常重要的文献。 提要： Rietveld 全谱拟合法及高分辨X 射线粉末衍射实验方法的出现与发展, 使X 射线粉末衍射进入了一个新阶段, 不但提高了分析结果的质量, 并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了R ietveld 全谱拟合法的理论; 高分辨高准确的粉末衍射装置, 从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法(包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等)。 [ Last edited by gyliu on 2008-1-14 at 04:25 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
求调剂
已经有15人回复
-
293调剂
已经有3人回复
-
机械工程264学硕求调剂
已经有3人回复
-
264求调剂
已经有9人回复
-
求调剂
已经有6人回复
-
22408 266求调剂
已经有7人回复
-
273求调剂
已经有43人回复
-
307求调剂
已经有13人回复
-
327求调剂
已经有7人回复
-
338求调剂
已经有6人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
3楼2007-08-23 08:19:18
4楼2007-08-23 08:29:41
5楼2007-08-23 18:04:47
6楼2007-08-30 20:57:05
8楼2008-06-24 09:06:31
简单回复
明日2楼
2007-08-23 07:46
回复
谢谢分享!!
caoqigao7楼
2008-01-14 18:08
回复
支持啊！！
