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X射线粉末衍射的新起点 - Rietveld全谱拟合
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"X射线粉末衍射的新起点 - Rietveld全谱拟合" 是马礼敦老师1996年写的一篇综述，对于初学Rietveld拟合精修的朋友来说，这是一篇非常重要的文献。 提要： Rietveld 全谱拟合法及高分辨X 射线粉末衍射实验方法的出现与发展, 使X 射线粉末衍射进入了一个新阶段, 不但提高了分析结果的质量, 并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了R ietveld 全谱拟合法的理论; 高分辨高准确的粉末衍射装置, 从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法(包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等)。 [ Last edited by gyliu on 2008-1-14 at 04:25 ] |
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